SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪

SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪
可实现微小区域和曲面的反射率测量。
可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精度测量曲面和平面的反射率。

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产品详情

SIGMAKOKI/西格玛光机反射率测量仪

可实现微小区域和曲面的反射率测量。

可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精度测量曲面和平面的反射率。

采用了特殊结构的半透镜，能高效地收集被测试样的反射光，并高效地导入分光光度计，可快速地完成低反射率样品的测量。

采用了特殊的光学结构，有效地避免了底面反射的影响，可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。
(使用20倍物镜时，可测最小透明薄板厚度可达0.3mm）

采用了特殊卤素灯和*创的光学设计，其有效光量大，获取数据快，重复精度高。

测量点小(典型值为φ50μm)，可直接测曲面，以及膜层的分布特性。

结构紧凑，体积小，不占空间。

可用Microsoft® Excel®文件格式保存测量数据。

可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果(曲线)，
方便数据的对比分析。

采用峰值跟踪技术，提高了反射率的重复测量精度

技术指标